第三代
半導(dǎo)體測試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
QT-3101 UIL 雪崩測試
QT-3101 UIL 雪崩測試適用于測試 MOSFET、IGBT、二極管的雪崩參數(shù)
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支持雙DIE |
快速充電 |
失效波形保存 |
鉗壓功能 |
| 型號 | QT-3101 UIL |
| 產(chǎn)品優(yōu)勢 |
? 支持 VDD ON(E=1/2L*I*I*BVDSS/(BVDSS-VDD))或VDD OFF(E=1/2*L*I*I) 測試 ? 可與 QT-4100B 共用一臺電腦，實(shí)現(xiàn)測試程序和數(shù)據(jù)統(tǒng)一管理 ? 可設(shè)定單脈沖、多脈沖或者雙 MOSFET 測試 ? 輸出電流IDMAX 實(shí)時(shí)測量監(jiān)控和Energy讀取 ? 電感內(nèi)阻低，ID充電快，測試時(shí)間更短 ? 內(nèi)置示波器 |
| 主要特點(diǎn) |
? 支持RPF
? 晶圓測試爆珠保護(hù)
? 顯示實(shí)際測量的能量(mJ) ? 支持PVDROOP、PVCOLLAPSE測試 ? QT-UILM模組：ID電流輸出能力提升至400A，BVDSS電壓測量5KV |
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