低雜散 247/TPAK 動態(tài)測試方案：由 QT-3108SW 動態(tài)測試系統(tǒng)與重力式分選機(jī)組成。
支持 TO247/TPAK SiC MOS IGBT 封裝器件動態(tài)參數(shù)測試。
● RG 1-512線性可調(diào)
● 負(fù)載電感10-1100uH步進(jìn)10uH
● 短路保護(hù)<1us
● 支持KGD測試針卡保護(hù)電路
QT-3108SW功能齊全，支持SW、ISC 、TRR（系列參數(shù)）、
ILATCH、SCSOA、QG參數(shù)測試，選配UIS。
應(yīng)用環(huán)境測試應(yīng)用板與分選機(jī)直連 |
開通/關(guān)斷延時TDON / TDOFF
測量范圍：0~2us |
上升/下降時間TR / TF
測量范圍：0~2us |
反向恢復(fù)時間TRR
測量范圍：0~5us |
反向恢復(fù)電荷QRR
測量范圍：0～10uC； |
總柵電荷QG
測量范圍：0~100uC； |
短路電流SCSOA
測量范圍：0~5000 A； |
鉗住電流ILATCH
測量范圍：25~1000 A； |
閾值電壓VTH
測量范圍：0～10.0V； |
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解決線材分布電感引起測試結(jié)果不良
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