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第三代
首頁 產(chǎn)品中心 半導(dǎo)體測試 功率器件測試系統(tǒng)
分類
KGD(Known Good Die)測試解決方案

支持高溫常溫測試：DC+SW+UIL+DC&RG； 支持測試針卡保護(hù)方案； 提供測試+分選整套方案；



針卡保護(hù)

兩顆并測

高溫常溫

數(shù)據(jù)合并

型號 KGD測試解決方案
產(chǎn)品優(yōu)勢 ? 低雜散解決方案；
? 獨(dú)家針卡保護(hù)專利技術(shù)；
? 過載欠壓保護(hù)；
? 一次測試兩顆晶片；
? 支援高溫加熱